吉時(shí)利2400系列專用于要求緊密結(jié)合源和測(cè)量 的測(cè)試應(yīng)用。全部型號(hào)都提供精密電壓源和電 流源以及測(cè)量功能。每款既是高度穩(wěn)定的直流 電源也是真儀器級(jí)的6位半萬用表。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高 和低噪聲。最終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測(cè)試儀。 在工作時(shí)，這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車和醫(yī)療行業(yè) 的組件和模塊制造商會(huì)發(fā)現(xiàn)吉時(shí)利數(shù)字源表是適于特 性分析和生產(chǎn)測(cè)試等廣泛應(yīng)用的重要源表。

吉時(shí)利2400系列主要特性：

• 集5臺(tái)儀器的功能于一體（IV源、IVR      測(cè)量）

• 6種模式：20W~100W直流、1000W脈沖、1100V至1μV、10A至10pA

• 源和阱（4象限）工作

• 0.012%基礎(chǔ)測(cè)量精度（6位半分辨率）

• 2線、4線和6線遠(yuǎn)程電壓源和測(cè)量感測(cè)

• 1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），通過GPIB

• 通過/失效比較器用于快速排序/分選

• 提供高速感測(cè)線接觸檢查功能

• 可編程DIO端口用于自動(dòng)化/處理程序/探針控制

• 標(biāo)準(zhǔn)SCPI GPIB、RS232和吉時(shí)利觸發(fā)鏈路接口

• 吉時(shí)利LabTracer 2.0版I-V曲線跟蹤應(yīng)用軟件（下載）

典型應(yīng)用

設(shè)備：

• 分立半導(dǎo)體器件

• 無源器件

• 瞬變抑制器件

• IC、RFIC、MMIC

• 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光檢測(cè)器

• 電路保護(hù)器件：TVS、MOV、保險(xiǎn)絲等

• 氣袋

• 連接器、開關(guān)、繼電器

測(cè)試：

• 漏電

• 低電壓/電阻

• LIV

• IDDQ

• I-V特性分析

• 隔離和印制線電阻

• 溫度系數(shù)

• 正向電壓、反向擊穿、漏電流

• 直流參數(shù)測(cè)試

• 直流電源

• HIPOT

• 絕緣耐壓測(cè)試序列舉例

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

緊湊集成儀器的優(yōu)點(diǎn)

通過在單臺(tái)裝置中連接源和測(cè)量電路，這些儀器能 提供多種優(yōu)于單獨(dú)的源和測(cè)量?jī)x器構(gòu)建的系統(tǒng)。例如， 它們極大地縮短了測(cè)試站開發(fā)，建立和維護(hù)所需的時(shí) 間，同時(shí)降低了購(gòu)買系統(tǒng)的整體成本。通過去除與使用 多臺(tái)儀器相關(guān)的復(fù)雜同步和連接問題，它們簡(jiǎn)化了測(cè)試 過程本身。而且，緊湊的半機(jī)架尺寸節(jié)省了測(cè)試架或測(cè)試臺(tái)的寶貴“空間"。

集5種儀器功能于一體（IV源、IVR測(cè)量）

源測(cè)量?jī)x器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如，它具有更短的測(cè)試時(shí) 間，通過減少GPIB的流量并簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過載、熱失控 等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀。如果回讀 達(dá)到可編程容限的極限，那么該源就被鉗位在此極限，從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。

I-V特性分析

所有數(shù)字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象限的時(shí)候，作為電源向負(fù)載輸出 功率。工作在第2和第4象限的時(shí)候，作為阱（負(fù)載）吸收能量。在源或阱工作期間都能測(cè) 量電壓、電流和電阻。

自動(dòng)化以提高速度

吉時(shí)利數(shù)字源表提高了生產(chǎn)測(cè)試的效率。它 能在提供電壓源或電流源的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，無需 更改連接，因此適合于在不間斷生產(chǎn)環(huán)境中可靠 地工作。為了提供生產(chǎn)應(yīng)用所需的吞吐率要求， 數(shù)字源表具有許多內(nèi)建功能因而能運(yùn)行復(fù)雜的 測(cè)試序列，無需速度較低的計(jì)算機(jī)控制或GPIB通 信。

標(biāo)準(zhǔn)掃描和定制掃描

掃描方案采用自動(dòng)化鉤子（hook）極大加快 了測(cè)試。三種基本掃描波形可設(shè)置為單事件或連 續(xù)工作，因而非常適于I/V、I/R、V/L和V/R特性分 析。

• -線性階梯掃描：從起始電平到終止電平使用相等的線性步長(zhǎng)

• -對(duì)數(shù)階梯掃描：按照每十個(gè)單位步數(shù)按對(duì)數(shù)量比例進(jìn)行掃描

• -定制掃描：通過測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的輸出電平，支持設(shè)立專用掃描

• -達(dá)1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），至GPIB總線

• -5000個(gè)讀數(shù)可以存儲(chǔ)在非易失緩沖存儲(chǔ)器中

內(nèi)建測(cè)試定序儀（源存儲(chǔ)器列表）

源存儲(chǔ)器列表提供了更快捷、更方便的測(cè)試，您能設(shè)置和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測(cè)試并 能實(shí)現(xiàn)無PC干預(yù)的運(yùn)行。

• -存儲(chǔ)多達(dá)100種儀器配置，每種均包含源設(shè)置、測(cè)量設(shè)置、通過/失效標(biāo)準(zhǔn)等。

• -通過/失效極限測(cè)試速度達(dá)500μs/測(cè)試點(diǎn)

• -板上比較器消除了當(dāng)發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析時(shí)產(chǎn)生的延遲

• -內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算推導(dǎo)參數(shù)

數(shù)字I/O接口

數(shù)字I/O接口能將數(shù)字源表連接至許多流行的組件處理程序，包 括Aetrium、Aeco和Robotronics。此接口的其它功能包括：

• 緊湊的系統(tǒng)集成用于分選和排序等應(yīng)用

• 內(nèi)建組件處理程序接口

• 測(cè)試開始和測(cè)試結(jié)束信號(hào)

• 5V、300mA電源

• 可選擴(kuò)展器附件（2499-DIGIO型）增加16條數(shù)字I/O線

觸發(fā)鏈路接口

全部數(shù)字源表都包含吉時(shí)利專有的觸發(fā)鏈路接口，能與許多吉 時(shí)利許多其它儀器建立高速、無縫的通信。例如，使用觸發(fā)鏈路接口 連接數(shù)字源表和7000系列開關(guān)系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測(cè)試方案。在 獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和GPIB的高速測(cè)試序列過程中，通過觸發(fā)鏈路，7000系 列開關(guān)系統(tǒng)可被數(shù)字源表控制。

可選接觸檢查功能

在自動(dòng)測(cè)試序列開始之前，接觸檢查功能可以快捷、容易地驗(yàn) 證是否連接良好。這消除了由于接觸疲勞、破損、玷污、松動(dòng)或連接 中斷、繼電器故障等產(chǎn)生的測(cè)量誤差和不真實(shí)的產(chǎn)品缺陷。此功能 的一些性能如下：

• 350μs驗(yàn)證和通知處理時(shí)間

• 數(shù)字源表的輸出在出錯(cuò)之后自動(dòng)關(guān)閉并且直至確認(rèn)接觸良好后再      激活，進(jìn)而保護(hù)被測(cè)器件不被損壞并保護(hù)控制器不受潛在的安全 性威脅。

• 3個(gè)通過/失效閾值：2Ω、15Ω和50Ω

• 在工作過程中，沒有能量通過被測(cè)器件

• 從前面板使能或遠(yuǎn)程通過GPIB使能

• 3種故障通知方法

  
  

  

6線歐姆電路。因?yàn)榇箅娏鞣雷o(hù)使R2兩端電壓為0V，所以全部測(cè)試電流通過R1。

6線電阻測(cè)量方法

數(shù)字源表能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)4線、分裂Kelvin以及6線、帶防護(hù)的電阻測(cè) 量并且能配置為恒流或恒壓方法。6線測(cè)量方法：

• 除了4線感測(cè)和源測(cè)試線之外，還使用防護(hù)和防護(hù)感測(cè)線。

• 鎖定并行電流路徑，當(dāng)測(cè)量電阻排或混合電路隔離被測(cè)元件時(shí)

• 允許用戶用2400系列源表簡(jiǎn)捷地配置和繪制數(shù)據(jù)，從而能輕易實(shí) 現(xiàn)兩臺(tái)、三臺(tái)和四臺(tái)終端器件的特性分析

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2440-C       40V、5A、50W源表帶接觸檢查